Ders Adı | Kodu | Yerel Kredi | AKTS | Ders (saat/hafta) | Uygulama (saat/hafta) | Laboratuar (saat/hafta) |
---|---|---|---|---|---|---|
Malzeme Karakterizasyon Teknikleri | MEM3432 | 2 | 2 | 2 | 0 | 0 |
Önkoşullar | Yok |
---|
Yarıyıl | Bahar |
---|
Dersin Dili | İngilizce |
---|---|
Dersin Seviyesi | Lisans |
Dersin Türü | Seçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Lisans Programı (%30 İngilizce) |
Ders Kategorisi | Temel Meslek Dersleri |
Dersin Veriliş Şekli | Yüz yüze |
Dersi Sunan Akademik Birim | Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü |
---|---|
Dersin Koordinatörü | Figen Kaya |
Dersi Veren(ler) | Figen Kaya, H.Aygül YEPREM |
Asistan(lar)ı |
Dersin Amacı | Bu dersin amaçları, i) malzeme karakterizasyonunun malzeme üretim ve uygulamalarındaki öneminin öğretilmesi, ii) metalurji ve malzeme Mühendisliği alanında yaygın olarak kullanılan tekniklerin öğretilmesi, iii) tekniklerden elde edilen sonuçların irdelenmesi, iv) endüstriyel uygulamalar açısından örnekler üzerinden analiz ve yorum kabiliyetlerinin öğrenciye kazandırılmasıdır. |
---|---|
Dersin İçeriği | Malzeme karakterizasyonunda yaygın olarak kullanılan mikroskobik, termal ve spektroskobik yöntemler |
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar |
|
Opsiyonel Program Bileşenleri | Yok |
Ders Öğrenim Çıktıları
- Mikroskoplar ve spektroskopların temel fiziksel çalışma prensiplerini anlama becerisi kazanır.
- İçyapı- özellik ilişkisinin mikroskoplar ve spektroskoplar yoluyla analiz edilmesi bilgi ve becerisini kazanır.
- Modern mühendislik donanımlarını kullanma becerisi kazanır.
- Elde ettiği sonuçları analiz ederek yorumlama becerisi kazanır.
- Etkin yazılım ve sözlü iletişim kurma becerisi kazanır.
Ders Öğrenim Çıktısı & Program Çıktısı Matrisi
DÖÇ-1 | DÖÇ-2 | DÖÇ-3 | DÖÇ-4 | DÖÇ-5 |
Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları
Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
---|---|---|
1 | Karakterizasyon Tekniklerine Giriş | İlgili Kaynaklar |
2 | Optik Mikroskopta Görüntü oluşumu | İlgili Kaynaklar |
3 | Işığın Girişimi ve Polarizasyonu, Polarize ışık mikroskobu | İlgili Kaynaklar |
4 | Diferansiyel Girişim Kontrast (DIC) ve Konfokal Mikroskopları | İlgili Kaynaklar |
5 | Elektron- Katı Malzeme Etkileşimi | İlgili Kaynaklar |
6 | X Işınlarının Girişimi, XRD, XRF, XPS | İlgili Kaynaklar |
7 | Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), SEM-EDX, SEM-WDX | İlgili Kaynaklar |
8 | Ara Sınav 1 | |
9 | İlgili Kaynaklar | |
10 | TG- DTA, DSC | İlgili Kaynaklar |
11 | Yüzey Alanı ve PoroziteGaz adsorbsiyon ölçümü (BET) | İlgili Kaynaklar |
12 | Atomik Absorbsiyon ve Atomik Emisyon Spektrometreleri | İlgili Kaynaklar |
13 | Ara Sınav 2 | İlgili Kaynaklar |
14 | FI-IR, Raman Spektrometresi, Tane Boyutu Ölçümü Yöntemleri | İlgili Kaynaklar |
15 | İlgili Kaynaklar | |
16 | Final |
Değerlendirme Sistemi
Etkinlikler | Sayı | Katkı Payı |
---|---|---|
Devam/Katılım | ||
Laboratuar | ||
Uygulama | ||
Arazi Çalışması | ||
Derse Özgü Staj | ||
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | ||
Ödev | 1 | 30 |
Sunum/Jüri | ||
Projeler | ||
Seminer/Workshop | ||
Ara Sınavlar | 1 | 30 |
Final | 1 | 40 |
Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı | ||
Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı | ||
TOPLAM | 100 |
AKTS İşyükü Tablosu
Etkinlikler | Sayı | Süresi (Saat) | Toplam İşyükü |
---|---|---|---|
Ders Saati | 16 | 2 | |
Laboratuar | |||
Uygulama | |||
Arazi Çalışması | |||
Sınıf Dışı Ders Çalışması | 14 | 1 | |
Derse Özgü Staj | |||
Ödev | 1 | 15 | |
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | |||
Projeler | |||
Sunum / Seminer | |||
Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 2 | 10 | |
Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi) | 1 | 15 | |
Toplam İşyükü : | |||
Toplam İşyükü / 30(s) : | |||
AKTS Kredisi : |
Diğer Notlar | Yok |
---|